什么時候出不來，普賽斯內容小教學活動從新變回各位老板周邊。今天教學活動一般和玩家聊聊數字式源表的選用須知。 數碼源表也稱做源估測摸塊(Source Measure Unit，SMU)， 集數碼萬用表、電壓值源、電壓源、電子器材根據及其激光脈沖引發器、正弦波形引發器等軟件系統于分離式，在工作率半導體元器件試驗、光電材料子器材元器件研發、結晶管檢定等部分被寬泛技術應用，可以簡單試驗軟件系統，增長試驗率。 誰還不知道怎末使用SMU?就好好來“挖一挖”

1、確認待測DUT的電流電壓最大范圍

在選購源表時，都要先根本待測DUT的工作直流電直流端直流電壓極限區域，謹以為根據來選購源的導出區域，整個導出區域是說 源表對外經濟導出節流過程直流端直流電壓/工作直流電的實用功能區域。這里英文都要小心，隨著源表有總輸出的上限，其導出可以此外達到了工作直流電導出和直流端直流電壓導出的極限值。

源表選用四象限的崗位任務模試。當電阻、崗位任務瞬時電壓電流大小均為正時，源表的崗位任務在首要象限；當電阻為負、崗位任務瞬時電壓電流大小為正時，源表的崗位任務在其次象限；當電阻、崗位任務瞬時電壓電流大小均為負時，源表的崗位任務在第三方象限；當電阻為正、崗位任務瞬時電壓電流大小為負時，源表的崗位任務在第四步象限。

2、避免器件自熱效應對測試結果的影響

以SiC、GaN為代表著的第三步代半導體行業芯片器材資料滿足高禁傳輸傳輸率度、高燒不退導率、高損壞場強、高電子廠呈現飽和的情況漂移傳輸率等共同點，在沒了自熱反應的時候下測定半導體行業芯片器材資料和器材的真的的情況至關比較重要。輸入脈沖激光造成的研究方法是自熱反應的很好的解決計劃，其原因是根據間歇間通電(輸入脈沖激光造成的)來降低了溫度升高對半導體行業芯片器材功效的損害，而能受到更真的的數據信息，構建最快的速度速和更識貧的測定。相對 極速數值化或正弦波形參數終端采集的廣泛運用場合，輸入脈沖激光造成的測試測試極具更高一些的區分率，行練好更好的采樣系統功效，在一樣的傳輸傳輸率下可兌換更精度的瞬態性能特點，是正弦波形參數馴服和瞬態性能特點廣泛運用的志向選購。

3、關注綜合測試指標

充分考慮數字9源表的測驗指標英文時,要素用詞不能忽略,比如說:高精度、反復重復、辯認率、靈活度和NPLC采樣系統事件。

以精確度為例子,源表關心的在線估測精確度應構成瞬時電流大小在線估測精確度和瞬時電流在線估測精確度。譬如，在工率配件外部性能測試中,關心10O0A及之內高瞬時電流大小量限下的輸出及在線估測精確度更為主要。

4、確認所需通道數量

當朋友有多路檢驗各種需求時，公司個性化推薦朋友采用普賽斯CS系例插卡式小數源表，較高可達成40路同時檢測的及輸出精度。

也可以選擇將多臺單通道數字源表(SMU)連接起來，可以作為多通道源/測量單元使用，無需復雜的布線。通過此功能，只需要對主機和從機進行相關觸發設置，主機可以從A向從機發送測試數據，接上專用的觸發信號線之后，即可實現多臺源表間的同步。

如需了解一下更基本的電磁閥選型指導性那就繼續普賽斯“挖一挖”。