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分立器件 分立器件

分立器件

專心于半導體設備電的可靠性測試測試

IC芯片電性能參數測試

的來源：admin 精力：2024-08-09 14:07 訪問 量：156
處理電子元集成電路處理芯片測評是 處理電子元集成電路處理芯片開發、生孩子、封口、測評程序流程中的非常非常重要步聚，是在使用某一器材，進行對付測元集成電路處理芯片DUT(Device Under Test)的的檢測，區別缺欠、證實元集成電路處理芯片是不是合乎開發方向、分離處理元集成電路處理芯片好懷的操作過程。在這其中直流變壓器叁數測評是產品檢驗處理電子元集成電路處理芯片電耐熱性的非常非常重要方式的方法一個，常見的測評的方法是FIMV（加電阻電流量測電阻）及FVMI（加電阻測電阻電流量），測評叁數分為開不導通測評(Open/Short Test)、漏電阻電流量測評（Leakage Test）并且 DC叁數測評（DC Parameters Test）等。


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