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悉心于半導體器件電特點測試

普賽斯儀表攜國產化高精度數字源表等半導體電性能測試設備亮相2023慕尼黑上海電子展

源:admin 時間段:2023-07-11 16:59 挑選量:1508
        3月11日,2023慕尼黑西安光學設備無線展(Electronica China)在西安各國展覽基地基地盛大開幕,此屆上海展會以“相融合多元化、智引十年后的中國國家”作為主題,聚合半導體設備、無源元件、智慧網聯&電動物流車開發小轎車、感應器器、聯系器、按鈕開關、束線電纜、主機電源、測式精確測量、包裝印刷電線板、光學設備無線開發安全服務、優秀開發等企業的,開發從產品設計的到利用落地頁的相接領域內外游的專業的表現的平臺,以多元化工藝提高中國國家光學設備無線領域未來發展。


        普賽斯儀容儀表努力于半導體建筑材料建筑材料設備公測中低端轉備的德國進口化,攜全型號半導體建筑材料建筑材料設備電機械性能公測主推產品設備及半導體建筑材料建筑材料設備領域職業從建筑材料、晶圓到器材公測來解決策劃方案出席某次博覽會,吸納有很多建筑項目師和職業前輩親臨體念聯席會。


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        自測校正是整一個光電器件第三產業的重量的把控的能夠手法,半導體行業利用研發部門有差異,的重量的把控包含前道檢則、中道檢則和后道自測。前道檢則別稱為的過程處理工藝檢則,面相晶圓產生,排查測量光刻、刻蝕、膠片堆積、擦拭、CMP等晶圓產生部門后設備處理運作能不能有完成設計追求或具有反應良率的缺陷,看中物理上的性檢則;中道檢則面相一流封裝形式,以光電器件等非排斥式手法涉及重接線組成部分、凸點與硅通孔等晶圓產生部門的的重量的把控;后道自測一般面相晶圓檢則(CP,Circuit Probing)和制成品自測(FT,Final Test),排查測量集成ic功能能不能有完全符合追求,看中電功能檢則。


        著眼于半導體行業的電耐熱性測試方法測試方法,普賽斯儀器現廠展現出了選擇技術創新的源表一系列(SMU)、電磁信號恒流源 (FIMV)、髙壓低壓24v電源適配器 (FIMV、FVMI)、電磁信號恒壓源及其參數信息參數的信息采集卡5幾類企業產品,適用于直流變壓器源表、電磁信號源表、窄電磁信號功率源、集成系統插卡式源表、高準確度的很大功率源、高準確度髙壓低壓24v電源適配器、參數信息參數的信息采集卡等產的化電耐熱性測試方法測試方法儀器,其平衡性、靠得住性、相符性有大范圍的市面核實。、


        聚焦點第四代半導體方法盡快進展下公司企業要面臨的局面和挑站,普賽斯多功能儀表副否則人否則人兼科研開發方法否則人王承與現廠體驗者做出了深些基本要素的探究。


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SiC/IGBT功率半導體器件測試

        涉及SiC/IGBT電子電子器件在測式中兼有的測禁止、測不全、牢靠性還有吸收率低的方面,普賽斯儀盤表推薦另外一種應用場景國內化高精準度數字5源表(SMU)的測式措施,滿足良好的測式實力、更準確的的校正畢竟、更多的牢靠性與更多方面的測式實力。兼有高直流電壓(3500V)和大電壓交流電(6000A)特征參數、μΩ級導通電阻工率精確度校正、nA級電壓交流電校正實力等特殊性。大力支持高壓低壓的模式下校正工率電子電子器件結濾波電解電阻器,如放入濾波電解電阻器、輸出濾波電解電阻器、返向網絡傳輸濾波電解電阻器等。


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GaN功率半導體器件測試

        涉及氮化鎵(GaN)屬于砷化鎵(GaAs)等好的產品制成的高速路器材的I-V自測,普賽斯儀盤表最頂配制定的CP好的產品智能恒壓源可以更高效快很好解決自測困難。好的產品具備有智能交流電最高的人可至10A、智能長寬超小可低至100ns;支撐直流電源、智能兩大類電流值所在策略等特征 。好的產品可適用于GaN的自熱因素,智能S性能自測等情況。

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科學課分析儀器銀石賽道長坡厚雪,國產品牌代替品業務需求濃烈。普賽斯儀表盤將維持技術創新,不斷的積極推動制造業發展鏈上下左右游合作的協同,以非常好的類產品與的服務保駕護航的客戶控制制造業發展增值率,共赴可維持未來!



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